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电子测量仪器

  • wat半导体参数测试设备_晶圆片检测仪

    wat半导体参数测试设备_晶圆片检测仪具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可靠性。

    2024-10-11
  • 功率半导体器件CV测试系统

    普赛斯功率半导体器件CV测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置,通过矩阵开关加载在待测件上。

    2023-12-18
  • OLED电性能IV测试用源表

    OLED 的测试一般分为三个方面电学测试和光学测试以及寿命测试。电学测试包括器件的电流、电压、光电流、亮度等。IV曲线扫描

    2022-06-13
  • 数字源表结构和原理

    数字源表可以单独作为恒定电压源或者恒电流源来使用,也可以单独作为电压表或电流表来使用。然而,它们的强大之处在于同时将提供信号源的功能与测量的功能紧密融合为一体,向待测器件(负载)提供驱动电压同时测量其中流过的电流,或是向负载提供驱动电流同时测量其两端的电压。

    2022-06-13
  • 资方名下配合客户网银显账摆账操作流程及注意

    资方名下配合客户网银显账摆账操作流程及注意

    2022-01-13
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